隨著半導體 IC晶圓製程不斷向前推進,從當前的4/5奈米主流,前進到目前業界最先進的3奈米製程,當中的 IC電路不斷微縮,檢測分析難度因而不斷提升;加上未來2奈米製程,更將進一步更換全新製程材料,因此,在全新挑戰的到來之下,檢測分析服務廠商在整體 IC晶圓製程中所扮演的角色,自然將更為吃重。
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