全球汽車朝向電動化與智慧化發展。隨著車用電子技術不斷提升，車用電子晶片的需求大幅增加。其中主要成長動能來自於電源管理 IC、感測器、類比 IC 等不同 IC 的規格提升，同時電動車及能源車也持續提升車用 IC 的成長動能。
為確保車用電子晶片能在各種複雜的情況下運作，同時保障駕駛與乘客的行車安全，芯測科技所開發的 eFlash 測試與修復 IP，能縮短 eFlash 測試時間，充分實現 eFlash IP 所需要的測試項目，同時降低晶片測試成本。
芯測科技的 eFlash 測試與修復 IP，已經可以針對許多知名的半導體廠商，提供客製化 eFlash 測試與修復 IP，並將客製化 eFlash 測試與修復 IP 使用於 SoC 中。此外，芯測科技的 eFlash 測試與修復 IP 已獲得中國新能源車廠的晶片供應商採用。
使用客製化 eFlash 測試與修復 IP 的好處在於：
1. 協助客戶縮短實現 eFlash 測試與修復電路的開發時間。
2. 充分實現 eFlash 所需要的完整測試項目。
3. 縮短 eFlash 測試時間。
車用電子晶片供應商透過芯測科技所提供的解決方案，協助車用電子晶片開發商完成 eFlash 的測試與修復項目。縮短車用電子晶片開發的時間，提高行車安全性，並降低晶片測試成本。使用 IP 儼然成為系統晶片設計上不可或缺的一環。採用芯測科技的客製化 eFlash 測試與修復 IP，能夠充分滿足客戶提高晶片質量與降低晶片測試成本的需求。
圖片出處:芯測科技 提供
