不論是在半導體製造過程中造成的缺陷，或因老化引起的異常漏電流，都有可能導致記憶體的讀寫行為發生錯誤。事實上，在客戶的實際應用中，也曾發生過資料寫入記憶體經過一段時間後無法正常讀取的情況。因此上電後的記憶體測試功能更加重要。隨著車用電子晶片的各項安全規格不斷更新，必須確保記憶體在長時間運行後依然保持正常運作。
芯測科技所開發的 EZ-Monitor是針對SRAM進行測試與修復的IP，可確保晶片內的記憶體生命周期，提供上電後測試流程 (Function mode) 在上電後立刻進行記憶體測試。除了能夠支援軟修復 (Soft Repair)，也與現有的 MBIST 電路共存。軟修復(Soft Repair) 能夠增加晶片的韌性，還能針對錯誤的記憶體立刻進行修復。不論客戶原有的MBIST電路是否來自芯測科技，EZ-Monitor IP 皆可兼容，為客戶的整體應用帶來更多便利性與彈性。
EZ-Monitor IP 利用保留測試模式 (Retention Test)，對資料儲存能力進行測試，以偵測保留錯誤 (Retention Error)，針對在裸晶偵測 (Chip Probing) 階段中未檢測出的記憶體缺陷，進行重要記憶體的重新測試。
此外，EZ-Monitor IP 提供兩種保留測試模式 (Retention Test)，包含固定保留時間 (Fixed Retention Time) 模式和握手 (Handshake) 模式。操作介面則是採用簡易的Basic I/O 介面。使用者可以通過控制 MEN 信號來啟動 EZ-Monitor 電路，並使用RET_state 和 RET_done 訊號進行握手模式的保留測試，最終，透過 MGO 訊號來取得記憶體測試的結果。
透過 EZ-Monitor IP 能為客戶提供可靠靈活的解決方案，有效增加整體晶片的韌性，確保記憶體在整個晶片生命週期內的穩定性和可靠性。這不僅提升了晶片的整體性能，還大幅降低了因記憶體故障而導致的風險，為客戶的產品提供更高的附加價值。
